重庆理工大学学报（自然科学）

重庆理工大学学报（自然科学） ›› 2020, Vol. 34 ›› Issue (6): 195-199.doi: 10.3969/j.issn.1674-8425（Z）.2020.06.028

• 电气·电子 • 上一篇    下一篇

基于相变存储器单元的高速电流脉冲测试系统

王玉菡１，曾自强２，王玉婵３   

  1. １．重庆理工大学 电气与电子工程学院，重庆 ４０００５４； ２．重庆航天职业技术学院 电子工程系，重庆 ４０００２１； ３．重庆邮电大学 光电工程学院，重庆 ４０００６５
  • 收稿日期:2019-04-04 发布日期:2020-07-08
  • 作者简介:王玉菡,女,硕士,副教授,主要从事电子材料?集成电路及其可靠性研究,E-mail:wangyh1981_0@163.com。
  • 基金资助:
    国家自然科学基金青年科学基金项目 (61804020);重 庆 市 教 委 科 学 技 术 研 究 项 目 (KJ1709212, KJ1600439);重庆理工大学青年科研项目星火支持计划项目(2014XH10);重庆邮电大学博士启动基金项 目(A2015-38);重庆邮电大学自然基金项目(A2015-51)

  • Received:2019-04-04 Published:2020-07-08

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摘要： 相变存储单元的测试平台多为电压测试平台，但是电压操作存在可控性差等问题， 直接影响操作过程中的速度和功耗，且芯片中对单元的操作一般为电流操作，基于此，设计搭建 了纳秒级电流脉冲测试系统。该系统采用自主研发的高速可编程恒流驱动芯片提供电流脉冲 信号，可提供最小宽度为 ５００ｎｓ的电流脉冲信号。利用固定电阻元件对系统进行测试验证，测 试结果与理论值基本一致。在此基础上，对相变单元进行测试，得到了完整的测试窗口，且实现 了单元测试过程中瞬态电压的提取，进一步验证了系统的可靠性。

关键词: 相变存储器, 电流脉冲, 测试系统, 可靠性

中图分类号: 

  • TP333