摘要： 相变存储单元的测试平台多为电压测试平台，但是电压操作存在可控性差等问题， 直接影响操作过程中的速度和功耗，且芯片中对单元的操作一般为电流操作，基于此，设计搭建 了纳秒级电流脉冲测试系统。该系统采用自主研发的高速可编程恒流驱动芯片提供电流脉冲 信号，可提供最小宽度为 ５００ｎｓ的电流脉冲信号。利用固定电阻元件对系统进行测试验证，测 试结果与理论值基本一致。在此基础上，对相变单元进行测试，得到了完整的测试窗口，且实现 了单元测试过程中瞬态电压的提取，进一步验证了系统的可靠性。
中图分类号:
王玉菡１，曾自强２，王玉婵３. 基于相变存储器单元的高速电流脉冲测试系统[J]. 重庆理工大学学报（自然科学）, 2020, 34(6): 195-199.
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