摘要： 针对阵列天线实现宽角端射扫描问题，提出基于综合测试方法的耦合系数估计理 论，实现阵元间耦合校正，并使相控阵实现接近端射（θ＝９０°）的辐射效果。由于阵列中的强互 耦效应导致阵元方向图发生畸变，阵列整体的扫描性能降低，相控阵无法达到端射扫描的角度。 使用基于综合测试方法的耦合系数估计理论进行分析，可以通过场的分布关系获得阵元间的耦 合系数。仿真结果表明：通过使用耦合系数估计的方法，阵元方向图得到良好校正，相控阵不仅 能够达到端射（θ＝９０°）扫描角度，而且在扫描过程中相控阵副瓣电平比同类型相控阵要降低至 少 ８ｄＢ
中图分类号:
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